高溫老化試驗(yàn)箱能調(diào)節(jié)電阻尺寸，顯示電阻值。風(fēng)循環(huán)由能夠在高溫下持續(xù)運(yùn)轉(zhuǎn)的離心風(fēng)機(jī)和獨(dú)特的風(fēng)管組成，室溫均勻。單用限溫報(bào)警裝置，超過(guò)限溫即全自動(dòng)終止，保證試驗(yàn)安全運(yùn)行，無(wú)事故發(fā)生。設(shè)置大型鋼化夾膠玻璃視窗，供觀測(cè)者查看工作室情況。那么隨著電子信息技術(shù)的發(fā)展，電子設(shè)備的集成程度越來(lái)越高，結(jié)構(gòu)越來(lái)越細(xì)小，工藝流程也越來(lái)越多，生產(chǎn)加工工藝也越來(lái)越復(fù)雜，這樣在整個(gè)生產(chǎn)制造過(guò)程中就會(huì)產(chǎn)生一些埋伏缺陷。在電子設(shè)備的生產(chǎn)加工中，由于設(shè)計(jì)方案不科學(xué)，原料不科學(xué)，加工工藝對(duì)策不到位等原因，導(dǎo)致產(chǎn)品質(zhì)量問題歸納為兩大類：

　　1、商品的技術(shù)參數(shù)不符合要求，生產(chǎn)制造的產(chǎn)品不符合應(yīng)用規(guī)定；

 

　　2、潛伏性缺陷，這種缺陷不能用一般的檢測(cè)方法發(fā)現(xiàn)，而必須在應(yīng)用的整個(gè)過(guò)程中慢慢暴露出來(lái)，例如單晶硅表面層的環(huán)境污染，機(jī)械結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，電焊焊接裂紋，綜合管路傳熱系數(shù)配對(duì)不良等。

 

　　一般而言，在電子設(shè)備工作時(shí)，要在高功率及各種正常工作溫度下工作1,000個(gè)鐘頭，才能使所有的受激話(暴露)。很明顯，對(duì)于每個(gè)元件進(jìn)行一千個(gè)小時(shí)的測(cè)試并不現(xiàn)實(shí)，因此必須對(duì)其釋放內(nèi)應(yīng)力和偏壓，例如在高溫老化試驗(yàn)箱中進(jìn)行高溫功率地應(yīng)力試驗(yàn)，以加速此類缺陷的提前暴露。即向電子設(shè)備釋放熱量、電力、設(shè)備外部地應(yīng)力或各種綜合地應(yīng)力，高溫老化試驗(yàn)箱模擬嚴(yán)酷的辦公環(huán)境，消除生產(chǎn)加工中的地應(yīng)力和有機(jī)溶劑殘留物等化學(xué)物質(zhì)，使埋伏的故障提前出現(xiàn)，盡早將商品按照無(wú)效的特點(diǎn)提前進(jìn)入到高可靠的穩(wěn)定器中。

 

　　依據(jù)高溫老化試驗(yàn)箱的檢測(cè)，可使電子產(chǎn)品的缺點(diǎn)、電焊焊接安裝等生產(chǎn)過(guò)程中存在的安全隱患提早曝露，老化后再進(jìn)行電氣設(shè)備主要參數(shù)的精確測(cè)量，挑選去除無(wú)效或變值的電子產(chǎn)品，盡量在所有正常使用的產(chǎn)品的早期失效解決辦法上，面與面確保原廠產(chǎn)品能經(jīng)得住時(shí)間的考驗(yàn)。