為何電子設備在高溫老化試驗箱中進行試驗？
2021-02-23 13:00 林頻儀器
高溫老化試驗箱適用于對電氣絕緣設備、電子零件、塑化產(chǎn)品等進行熱換氣老化試驗。對其在高溫環(huán)境條件下貯存和使用的適應性進行評價和判斷，對其在模擬高溫環(huán)境和大氣壓力下空氣中老化后的性能進行測試，并與未老化樣品進行比較。
那為何電子產(chǎn)品在高溫老化試驗箱內(nèi)進行高溫老化試驗？這是因為隨著電子技術的發(fā)展，電子產(chǎn)品的集成化程度越來越高，結(jié)構(gòu)越來越精良，工序越來越多，制造工藝越來越復雜，從而造成了生產(chǎn)中的潛在缺陷，由此產(chǎn)生的產(chǎn)品質(zhì)量問題可歸納為以下兩類：
不合格的產(chǎn)品性能參數(shù)；
潛伏缺陷，該缺陷不能在常規(guī)測試方法中發(fā)展，而是需要在使用過程中逐步暴露，如芯片與管殼體的熱阻配合不良，硅片表面污染等。
一般情況下，這類缺陷需要在元件在額定功率和正常溫度下工作約1000小時，才能暴露在外，但測試1000小時是不現(xiàn)實的，因此需要對其施加熱應力和偏壓，即電子產(chǎn)品施加加熱、電氣或多重復合的外部應力，模擬嚴酷的工作環(huán)境，消除加工應力和殘留溶劑等物質(zhì)，使?jié)撛诠收咸崆鞍l(fā)生，使產(chǎn)品盡快進入高可靠的穩(wěn)定狀態(tài)。
通過高溫老化試驗箱的試樣，可以提前暴露元器件缺陷、焊接裝配等生產(chǎn)過程中的隱患，老化后可以對元器件進行電參數(shù)檢測，排除失效、變值元器件，確保出廠產(chǎn)品經(jīng)得起時間的檢驗。為了延長電子產(chǎn)品的使用壽命，改善其使用感覺和紋理，高溫老化是必不可少的。